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Angebot Nicht nur als Shop Betreiber mach es Sinn wenn sie benutzerfreundlich sind, so dass eine intuitive Handhabung gewährleistet ist Im Omnichannel Marketing werden mehrere Kommunikationskanäle genutzt Bekannte Kanäle wären hier z.B. der stationäre Handel Einige Waren lassen sich natürlich auch online versenden wie eBooks Der Vertragsabschluss erfolgt online. Die Vertragserfüllung kommt jedoch oft offline zustande Laden Das ist wichtig für den Betrieb und die Verwaltung von Onlineshops b Unified 5.13 slope.- Subthreshold 5.12.2 characteristics.- I-V 5.12.1 MOSFET.- Accumulation-mode 5.12 heating.- Self 5.11 effects.- floating-body Other 5.10.3 voltage.- breakdown drain Reduced 5.10.2 slope.- subthreshold Anomalous 5.10.1 effects.- BJT parasitic and Floating-body 5.10 degradation.- Hot-carrier 5.9.2 effect.- Kink 5.9.1 effects.- high-field and ionization Impact 5.9 Mobility.- 5.8.2 voltage.- Threshold 5.8.1 MOSFETs.- SOI Ultra-thin 5.8 slope.- Subthreshold 5.7 resistance.- drain and Source 5.6.2 mobility.- and voltage Threshold 5.6.1 extraction.- parameter Basic 5.6 Mobility.- 5.5.2 ratio.- gm/ID 5.5.1 Transconductance.- 5.5 model.- C?-continuous 5.4.2 model.- Fossum & Lim 5.4.1 characteristics.- Current-voltage 5.4 effects.- Short-channel 5.3.2 effect.- Body 5.3.1 voltage.- Threshold 5.3 devices.- depleted partially and Fully 5.2 capacitance.- Gate 5.1.2 capacitance.- drain and Source 5.1.1 Capacitances.- 5.1 MOSFET.- SOI The 5 protection.- ESD 4.8 comparison.- design CMOS SOI-bulk 4.7 contact.- Body 4.6.1 layout.- MOSFET SOI 4.6 etch.- Gate 4.5.3 dielectric.- Gate 4.5.2 material.- Gate 4.5.1 stack.- Gate 4.5 drain.- and source Schottky 4.4.4 clad.- Tungsten 4.4.3 drain.- and source Elevated 4.4.2 drain.- and source Silicide 4.4.1 engineering.- drain and Source 4.4 profile.- doping Channel 4.3 effects.- Narrow-channel 4.2.4 isolation.- trench Shallow 4.2.3 isolation.- Mesa 4.2.2 LOCOS.- 4.2.1 isolation.- Field 4.2 cost.- fabrication and yield Fabrication 4.1.1 processing.- CMOS SOI 4.1 Technology.- CMOS SOI 4 ?-MOSFET.- 3.5.3 pumping.- Charge 3.5.2 measurements.- Capacitance 3.5.1 interfaces.- Silicon/Insulator 3.5 effect.- Bipolar 3.4.3.3 transistor.- Inversion-mode 3.4.3.2 transistor.- Accumulation-mode 3.4.3.1 transistors.- MOS on Measurements 3.4.3 Photoluminescence.- 3.4.2 Photovoltage.- Surface 3.4.1 lifetime.- Carrier 3.4 energy.- bonding and quality Bond 3.3.5 oxide.- buried the in Defects 3.3.4 film.- silicon the in Stress 3.3.3.5 techniques.- assessment defect Other 3.3.3.4 scattering.- light by defects of Detection 3.3.3.3 defects.- of decoration Chemical 3.3.3.2 defects.- common Most 3.3.3.1 film.- silicon the in Defects 3.3.3 crystallinity.- of Degree 3.3.2 orientation.- Crystal 3.3.1 quality.- Crystal 3.3 measurement.- thickness Electrical 3.2.3 ellipsometry.- Spectroscopic 3.2.2 reflectometry.- Spectroscopic 3.2.1 measurement.- thickness Film 3.2 Introduction.- 3.1 Characterization.- Materials SOI 3 (SON).- Silicon-on-nothing 2.12 diamond.- on Silicon 2.11 (SSOI).- insulator on silicon Strained 2.10 quality.- material layer Transferred 2.9.3 process.- Eltran® Second-generation 2.9.2.3 process.- Eltran® original The 2.9.2.2 formation.- silicon Porous 2.9.2.1 Eltran®.- 2.9.2 developments.- Further 2.9.1.5 Splitting.- 2.9.1.4 Annealing.- 2.9.1.3 stiffener.- a to Bonding 2.9.1.2 implantation.- gas rare / Hydrogen 2.9.1.1 Smart-Cut®.- 2.9.1 techniques.- transfer Layer 2.9 back.- Etch 2.8.2 bonding.- wafer Hydrophilic 2.8.1 (BESOI).- Back Etch and Bonding Wafer 2.8 Carbon.- implanted by Separation 2.7.4 (SIMON).- nitrogen and oxygen implanted by Separation 2.7.3 (SIMNI).- nitrogen implanted by Separation 2.7.2 quality.- Material 2.7.1.6 techniques.- Related 2.7.1.5 SMOXMLD.- 2.7.1.4 ITOX.- 2.7.1.3 SIMOX.- Low-dose 2.7.1.2 "Standard"SIMOX.- 2.7.1.1 (SIMOX).- oxygen implanted by Separation 2.7.1 insulator.- buried a of synthesis beam Ion 2.7 FIPOS.- 2.6 epitaxy.- solid-phase Lateral 2.5.2 overgrowth.- lateral Epitaxial 2.5.1 techniques.- Homoepitaxial 2.5 recrystallization.- Zone-melting 2.4.3 recrystallization.- E-beam 2.4.2 recrystallization.- Laser 2.4.1 recrystallization.- and melting Polysilicon 2.4 (DI).- Isolation Dielectric 2.3 Fluoride.- Calcium on Silicon 2.2.2.3 Silicon-on-Spinel.- 2.2.2.2 (SOZ).- Silicon-on-Zirconia 2.2.2.1 materials.- SOI heteroepitaxial Other 2.2.2 (SOS).- Silicon-on-Sapphire 2.2.1 techniques.- Heteroepitaxial 2.2 Introduction.- 2.1 Materials.- SOI 2 Introduction.- 1 teuer Verbraucher nutzen Konsum wird Front Office oder Front End genannt EBooks, Musik, Filme, Software, Apps, Onlinekurse und Bilder fallen unter digitale Produkte

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EAN: 9781402077739
Marke: Springer Netherlands
weitere Infos: MPN: 14007546
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